透射电子显微镜

透射电子显微镜（TEM）是一种电子显微镜。观察目标的电子束寻址到已被透射通过所述电子束该类型的电子显微镜从强度观察透射率在观察对象的空间分布为电子。在某些情况下，从样本中利用电子的波动特性从电子衍射（电子衍射）产生的干涉图像中观察到待观察对象的结构。广泛用于物理、化学、工程、生物学、医学等。

由于将电子施加到观察目标并通过水印进行观察，因此将目标切割得尽可能薄（厚度为100 nm或更小），或者将其薄薄地施加在传输电子的薄膜上。由于电子束的透射量根据被摄体的结构和构成成分而不同，因此透射电子的密度根据位置而变化，因此成为显微镜图像。

图像通过使用电磁线圈，以观察哪些反射针对其发光的荧光屏幕当电子束击中的专用放大透射电子束负片或CCD照相机与相片由或拍获得。

尽管它在开发之初仅限于工程应用，但自1950年代以来一直在生物学领域积极使用。这主要是由于切片方法（金刚石刀的铺展），样品制备和电子染色方法（重金属增加了样品的对比度）的改进。

由于普通透射电子显微镜的加速电压约为100 kV，因此样品必须足够薄。因此，它不适用于三维观察。为了克服该缺点，必须增加加速电压。具有这种规格的电子显微镜是超高压电子显微镜。

超高压电子显微镜是加速电压为1000kV以上的电子显微镜，通过提高电子束的透射率，可以观察到比以往的透射型电子显微镜厚约10倍（约5μm）的切片。我可以 结果，可以容易地进行三维观察。为了获得较高的加速电压，该设备非常庞大（高度8m，重量17t），无法在常规实验室中安装。因此，日本（截至2003年）只有16台超高压电子显微镜。