化学力显微镜

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化学力显微镜(CFM)是一种扫描探针显微镜。 该结构首次由Lieber等人于1994年发表,并在接触模式原子力显微镜(AFM)配置(例如摩擦力显微镜)中用于获取样品表面形状和摩擦力分布的信息 。 使用悬臂,其中探针的尖端被官能团(例如疏水性CH 3基团或亲水性COOH基团)覆盖,在样品表面上与化学物质的官能团(例如疏水性CH 3或亲水性COOH)相互接触可视化因作用而产生的摩擦力差异的分布信息。当...

化学力显微镜

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化学力显微镜(CFM)是一种扫描探针显微镜

结构首次由Lieber等人于1994年发表,并在接触模式原子力显微镜(AFM)配置(例如摩擦力显微镜)中用于获取样品表面形状和摩擦力分布的信息 。

化学力显微镜

使用悬臂,其中探针的尖端被官能团(例如疏水性CH 3基团或亲水性COOH基团)覆盖,在样品表面上与化学物质的官能团(例如疏水性CH 3或亲水性COOH)相互接触可视化因作用而产生的摩擦力差异的分布信息。当探针尖端表面和样品表面的组合不同时,两者之间的相互作用程度也不同,并且相同的亲水性 COOH基团的组合产生xxx的内聚力,而不同的疏水性 CH 3基团和亲水性不同。在功能性COOH基团的组合中,内聚力最小,内聚力的差异在相互作用力的二维分布图像中可见

化学力显微镜用法

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  • 评估表面被官能团覆盖的样品
  • 评估表面有有机物质的样品

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