传输线脉冲

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传输线脉冲(TLP)是研究静电放电(ESD)事件的电流和时域中的集成电路技术和电路性能的一种方法。第二次世界大战后不久,第175-189页的《脉冲发生器》(Vol。MIT辐射实验室系列的第5部分。此外,D.布拉德利,J.希金斯,M.Key和S.马宗达实现用于精确可变定时的脉冲千伏在1969年基于TLP-激光触发火花隙ESD对于调查和电过应力(EOS)的影响T.Maloney和N.Khurana于1...

传输线脉冲

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传输线脉冲(TLP)是研究静电放电(ESD)事件的电流和时域中的集成电路技术和电路性能的一种方法。第二次世界大战后不久,第175-189页的《脉冲发生器》(Vol。MIT辐射实验室系列的第5部分。此外,D.布拉德利,J.希金斯,M. Key和S.马宗达实现用于精确可变定时的脉冲千伏在1969年基于TLP-激光触发火花隙ESD对于调查和电过应力(EOS)的影响T. Maloney和N. Khurana于1985年首先引入了使用TLP发生器的测量系统。从那时起,该技术已成为集成电路ESD保护开发不可缺少的技术。

传输线脉冲

传输线脉冲技术基于将长的浮动电缆充电至预定电压,然后将其放电至待测设备(DUT)。电缆放电模拟静电放电事件,但是采用时域反射仪(TDR),可以根据时间xxxDUT阻抗的变化。

xxx个商业TLP系统是由Barth Electronics在1990年代开发的。从那时起,已经开发了其他商业系统(例如,Thermo Fisher Scientific、Grundtech、ESDEMC Technology、High Power Pulse Instruments、Hanwa、TLPsol)。

传输线脉冲的一个子集VF-TLP(超快速传输线脉冲)最近以其改进的分辨率带宽来分析短暂ESD事件(例如CDM(带电设备模型)事件)而广受欢迎。VF-TLP由学术界(伊利诺伊大学)开创,并由Barth Electronics商业化,已成为分析现代高速半导体电路的重要ESD分析工具

传输线脉冲标准

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ANSI / ESD STM5.5.1-2016静电放电敏感性测试–传输线脉冲(TLP)–组件级别

ANSI / ESD SP5.5.2-2007静电放电敏感性测试-极快的传输线脉冲(VF-TLP)-组件级别

IEC 62615:2010静电放电敏感性测试-传输线脉冲(TLP)-组件级别

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