应变计

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应变计是物体应变用于测量动态传感器。间接利用应变测量,也可用于应力测量和称重传感器。 金属箔应变片的轮廓形状,中间的蓝色部分是金属箔 将使用各向同性导体的应变仪称为金属应变仪,以区别于以下描述的半导体应变仪。有线性应变计和箔(金属箔)型菌株2个计。目前,箔纸类型是主流。 金属应变计具有如下结构:将呈锯齿形的金属电阻器(金属箔)安装在薄的绝缘体上,并测量由电阻器的变形引起的电阻变化,并进行测量。转换...

应变计

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应变计是物体应变用于测量动态传感器。间接利用应变测量,也可用于应力测量和称重传感器

金属应变计

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金属箔应变片的轮廓形状,中间的蓝色部分是金属箔

将使用各向同性导体的应变仪称为金属应变仪,以区别于以下描述的半导体应变仪。有线性应变计和箔(金属箔)型菌株2个计。目前,箔纸类型是主流。

应变计

基本原理

金属应变计具有如下结构:将呈锯齿形的金属电阻器(金属箔)安装在薄的绝缘体上,并测量由电阻器的变形引起的电阻变化,并进行测量。转换为被测物体的应变量。由于电阻的变化很小,因此将电桥电路用于检测。通常,测量是结合配备有称为应变放大器(应变放大器)和电压放大器的桥式电路的设备来执行的。

原则上,当通过使用粘合剂等将待测物体牢固地附着到待测物体而使之变形时,应变仪也以相同的速率变形。当拉伸应变仪时,以之字形布置的薄金属电阻器会延伸以增加长度并减小横截面面积,从而增加电阻。相反,当应变仪收缩时,电阻降低。

半导体应变计

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半导体应变仪是利用压阻效应的应变仪,其中半导体的电阻率会因应力而改变。应变系数比小应变的检测和动态影响测量的金属应变仪优良更高

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  1. 应变计
  2. 金属应变计
  3. 基本原理
  4. 半导体应变计

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