声放射力

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声发射力(ARF)是一种物理现象,由声波与沿其路径放置的障碍物相互作用而产生。通常,施加在障碍物上的力是通过在其随时间变化的表面上对声辐射压力(由于声波的存在)进行积分来评估的。 频率对声辐射力的影响通过强度(更高的压力在更高的频率下更难以获得)和吸收(更高的频率具有更高的吸收率)来考虑。作为参考,水的吸声率为0.002dB/(MHz2cm)。(页码?)可压缩颗粒(如气泡)上的声发射力也称为Bje...
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声放射力

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声发射力 (ARF) 是一种物理现象,由声波与沿其路径放置的障碍物相互作用而产生。 通常,施加在障碍物上的力是通过在其随时间变化的表面上对声辐射压力(由于声波的存在)进行积分来评估的。

频率对声辐射力的影响通过强度(更高的压力在更高的频率下更难以获得)和吸收(更高的频率具有更高的吸收率)来考虑。 作为参考,水的吸声率为 0.002 dB/(MHz2cm)。(页码?)可压缩颗粒(如气泡)上的声发射力也称为 Bjerknes 力,并且是通过不同的机制产生的,它不会 需要吸声或反射。 声发射力也可以通过物体表面的亚波长图案化来控制声发射力 (ARF)

当一个粒子暴露在声驻波中时,它会经历一种时间平均力,称为初级声辐射力 ( F p r {\displaystyle F_{pr}} )。 在作为共振室的具有共面壁的矩形微流体通道中,入射声波可以近似为形式的共振驻压波。

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