表征
编辑当用于材料科学时，表征是指探测和测量材料的结构和特性的广泛而普遍的过程。 它是材料科学领域的一个基本过程，没有它就无法确定对工程材料的科学理解。 该术语的范围通常不同； 一些定义将该术语的使用限制在研究材料的微观结构和特性的技术，而其他定义则使用该术语来指代任何材料分析过程，包括机械测试、热分析和密度计算等宏观技术。 在材料表征中观察到的结构尺度从埃（例如在单个原子和化学键的成像中）到厘米（例如在金属中的粗晶粒结构成像中）不等。
虽然许多表征技术已经实践了几个世纪，例如基本的光学显微镜，但新技术和方法不断涌现。 特别是 20 世纪电子显微镜和二次离子质谱仪的出现彻底改变了该领域，允许在比以前更小的尺度上对结构和成分进行成像和分析，从而xxx提高了理解水平 至于为什么不同的材料表现出不同的特性和行为。 最近，原子力显微镜在过去 30 年中进一步提高了某些样品分析的xxx可能分辨率。
显微镜
编辑显微镜是一类表征技术，可探测和绘制材料的表面和亚表面结构。 这些技术可以使用光子、电子、离子或物理悬臂梁探针在一定长度范围内收集有关样品结构的数据。 显微镜技术的一些常见示例包括：
光谱学
编辑光谱学是一类表征技术，它使用一系列原理来揭示材料的化学成分、成分变化、晶体结构和光电特性。 光谱技术的一些常见示例包括：
光辐射
- 紫外-可见光谱（UV-vis）
- 傅立叶变换红外光谱 (FTIR)
- 热致发光 (TL)
- 光致发光 (PL)
X光
- X 射线衍射 (XRD)
- 小角 X 射线散射 (SAXS)
- 能量色散 X 射线光谱（EDX、EDS）
- 波长色散 X 射线光谱（WDX、WDS）
- 电子能量损失谱 (EELS)
- X 射线光电子能谱 (XPS)
- 俄歇电子能谱 (AES)
- X 射线光子相关光谱 (XPCS)
质谱分析
核光谱学
其他
宏观测试
编辑大量技术用于表征材料的各种宏观特性，包括：
- 机械测试，包括拉伸、压缩、扭转、蠕变、疲劳、韧性和硬度测试
- 差热分析 (DTA)
- 介电热分析（DEA、DETA）
- 热重分析 (TGA)
- 差示扫描量热法 (DSC)
- 脉冲激励技术 (IET)
- 超声技术，包括共振超声光谱和时域超声检测方法
内容由匿名用户提供，本内容不代表vibaike.com立场，内容投诉举报请联系vibaike.com客服。如若转载，请注明出处：https://vibaike.com/195086/