表征

编辑
本词条由“匿名用户” 建档。

表征

编辑

当用于材料科学时,表征是指探测和测量材料结构和特性的广泛而普遍的过程。 它是材料科学领域的一个基本过程,没有它就无法确定对工程材料的科学理解。 该术语的范围通常不同; 一些定义将该术语的使用限制在研究材料的微观结构和特性的技术,而其他定义则使用该术语来指代任何材料分析过程,包括机械测试、热分析和密度计算等宏观技术。 在材料表征中观察到的结构尺度从埃(例如在单个原子化学键的成像中)到厘米(例如在金属中的粗晶粒结构成像中)不等。

虽然许多表征技术已经实践了几个世纪,例如基本的光学显微镜,但新技术和方法不断涌现。 特别是 20 世纪电子显微镜和二次离子质谱仪的出现彻底改变了该领域,允许在比以前更小的尺度上对结构和成分进行成像和分析,从而xxx提高了理解水平 至于为什么不同的材料表现出不同的特性和行为。 最近,原子力显微镜在过去 30 年中进一步提高了某些样品分析的xxx可能分辨率

显微镜

编辑

显微镜是一类表征技术,可探测和绘制材料的表面和亚表面结构。 这些技术可以使用光子电子、离子或物理悬臂梁探针在一定长度范围内收集有关样品结构的数据。 显微镜技术的一些常见示例包括:

光谱学

编辑

光谱学是一类表征技术,它使用一系列原理来揭示材料的化学成分、成分变化、晶体结构和光电特性。 光谱技术的一些常见示例包括:

光辐射

  • 紫外-可见光谱(UV-vis)
  • 傅立叶变换红外光谱 (FTIR)
  • 热致发光 (TL)
  • 光致发光 (PL)

X光

  • X 射线衍射 (XRD)
  • 小角 X 射线散射 (SAXS)
  • 能量色散 X 射线光谱(EDX、EDS)
  • 波长色散 X 射线光谱(WDX、WDS)
  • 电子能量损失谱 (EELS)
  • X 射线光电子能谱 (XPS)
  • 俄歇电子能谱 (AES)
  • X 射线光子相关光谱 (XPCS)

质谱分析

  • 质谱分析模式:
  • 二次离子质谱 (SIMS)

核光谱学

  • 核磁共振波谱 (NMR)
  • 穆斯堡尔谱 (MBS)
  • 扰动角相关 (PAC)

其他

  • 光子相关光谱/动态光散射 (DLS)
  • 太赫兹光谱 (THz)
  • 电子顺磁/自旋共振(EPR、ESR)
  • 小角中子散射 (SANS)
  • 卢瑟福背散射光谱法 (RBS)

表征

宏观测试

编辑

大量技术用于表征材料的各种宏观特性,包括:

  • 机械测试,包括拉伸、压缩、扭转蠕变、疲劳、韧性和硬度测试
  • 差热分析 (DTA)
  • 介电热分析(DEA、DETA)
  • 热重分析 (TGA)
  • 差示扫描量热法 (DSC)
  • 脉冲激励技术 (IET)
  • 超声技术,包括共振超声光谱和时域超声检测方法

内容由匿名用户提供,本内容不代表vibaike.com立场,内容投诉举报请联系vibaike.com客服。如若转载,请注明出处:https://vibaike.com/195086/

(3)
词条目录
  1. 表征
  2. 显微镜
  3. 光谱学
  4. 光辐射
  5. X光
  6. 质谱分析
  7. 核光谱学
  8. 其他
  9. 宏观测试

轻触这里

关闭目录

目录