自动测试设备

自动测试设备（ATE）是芯片和电子行业在生产过程中用于测试的测量设备的总称

• 晶圆或芯片和模块测试中的集成电路
• 处于焊接状态的模拟元件
• 电路板

ATE 执行以下测试：

• 边际测试，例如设备在施加电信号时是否以任何方式响应、接触测试
• 参数测试：测量电阻、电容、正向电压、漏电流、最小电源电压、速度与电源电压、xxx可达到速度等参数
• 功能测试：测量设备的完整功能（逻辑运算、写入和读取存储芯片）

ATE 必须具有适合测试对象的接触设备，例如用于晶圆测试的探针卡、用于芯片和模块测试的插座、用于印刷电路板测试的弹簧式接触针适配器或刚性针适配器.

电气测试信号由测试电子设备（测试模式生成器、引脚电子设备、信号格式化器）生成，馈送到 DUT，其响应信号在比较器中与无故障组件的预期信号进行比较。 如果响应信号偏离预期信号，则 DUT 被标记为有故障并被丢弃。

由于ATE在性能方面必须优于被测产品，因此设备通常非常昂贵，占生产成本的比例相对较高，对于非常复杂的组件高达30%。 因此，趋势是朝着更高的并行性（同时测试大量组件）和更高的速度发展，时钟频率在 GHz 范围内。

对于包含触发器和/或 RAM 存储器的数字电路，ATE 会出现无法直接读出或更改内部状态的问题。 当前的复杂性较高的模块（微控制器、PLD）等因此安装了单独的测试电路，借助于这些电路，可以通过单独的诊断接口 JTAG 总线观察和更改内部状态。 （另见边界扫描测试）

此外，ATE 的功能被重新定位到要测试的组件，即所谓的内置自测试单元 (BIST)。 这降低了 ATE 的成本，并减少了 ATE 和被测设备之间的电线/接触器的干扰。